Microscopio de fuerza atómica (AFM),

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Asunto:
Física
Lugar del origen:
Zhejiang, China
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Capacidad de suministro:
100 Unit/Units per Month
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Puerto
Shanghai Airport or Ningbo Port

 

Microscopio de fuerza atómica

SEK-8502

 

Los detalles

 
 
 

 

 

Principios:

AFM es una de las herramientas de observación de superficie más usadas en la familia SPM.El principio de laAFMSe basa en la interacción(Fuerza Atómica)Entre microLa sonda y la muestra¡! Cuando un punto microsondaSe acerca una muestra a una distancia muy corta, como variosNanometErs o más pequeño¡Una fuerza atómica F se producirá entreLos átomosDeLa microsondaPunta Y los deSuperficie de la muestra¡! Según el F-S RelaciónCurvaEnDe tracciónLa fuerza atómica es dominante cuando la distancia es relativamente mayor, mientras que la Fuerza Atómica repulsiva se vuelve predominante a medida que la distancia se hace mucho más pequeña. Sobre la base deLEseRelaciónS AFM Es capaz de A oBtain3D micro/nano-Morfología deMuestraSuperficie de detecciónAtómicaLas fuerzasUsando el método de deflexión del haz cuando una microsonda combinada cantilever escanea sobreLaMuestra

 Característica:

EspecialLy-diseñadoHorizontalAFMSondaUnidad

LaSEK-8502 AFM esUnEspecialmente diseñadoHorizontalAFMSondaUnidad para eliminar la interferencia entre la Fuerza Atómica y la gravedad. También es capaz deReducir laCentro de gravedad y evitarLa vertical asquerosoSDe grueso yBien.Mecanismo de ajusteS Además el AFMSondaLa unidad permite la visualización de la ruta óptica. EnEstosFormas de tÉlNovela AFMY suSondaUnidadEsDeMás apuñalarIlityY superiorLas actuaciones.

 

Estabilizado tri-Axial piezoeléctricos escáner

EsUtiliza un sTabilized tri-Axial piezoeléctricos escánerQue es capaz de eliminar el acoplamiento deX, Y Z piezoeléctricosElementos entre sí, para evitar la distorsión de la imagen¡! El escánerGarantizaMejor linealidad de escaneo e independencia, mayor intensidad y rigidez, así como fuerza motriz más fuerte¡! Por lo tanto, el escáner y el instrumento AFM son más adecuados para escanearPequeñoY/oGrandesLuz Y/oPesado muestras

 

OptimizadoAnálisis y comentariosControl Sistema de

Con oPtimizedAnálisis y comentariosControl Sistema deYInterfaz multicanal de alta precisión A/D y D/AS¡El AFM esMás deImágenes yResolución, mejor repetibilidad yMayorCalidad de imagen

 

Perfecto para la interfaz de softwareSY la funciónS

El software AFM es de pOwerful funciónSAmigable interfazS¡Y adecuado paraWindows XP/Win7/Win8 /Win10 y otros sistemas operativos.Cualquier usuarioPuede fácilmenteAprende el funcionamiento del software y luego entrégate a Él rápidamente.

 

Simple y convenienteInstrumentoOperación

La operación deEste AFM esBastanteSimple y convenientePara que cualquier usuario y estudiante ordinarioPuedeLlevar a cabo la operación, mientras que no se requiere personal profesional y cualificado. Cada proceso deSondaPuntaInstalación¡MuestraInstalaciónGrueso y bienSe acerca, Escaneo de imagen, imagenAdquisiciónY otras operaciones se pueden completar en 1 minutoPara cada¡!Por lo tantoEsMucho másAdecuado para investigación científica, experimentos de enseñanza y pruebas de productos.

 

Alta estabilidad yMejorAnti-disturbio/La interferenciaLas actuaciones

El AFM puede funcionar perfectamente bajoAmbosBuenoY comúnLas condiciones experimentales¡! Es capaz de escanear muestras y obtener imágenes satisfactorias enGeneral laboratorS y las habitaciones¡En comúnEscritorioS o mesas¡Y en entornos conLigera vibración disturbiosYInterferencia, etcEn otras palabras, iTEs DeMejor estabilidad, Mejor capacidad antidisturbios,Más Fuerte anti-(Óptica¡Eléctrico, electrónico yMagnéticoETc) La interferenciaLas actuacionesY velocidad de escaneo más rápida (hasta 1 imagen/1~ 6Segundos).

 

 

El AFMSe puede aplicar ampliamenteEnInvestigación Científica, estudios universitarios y estudios de postgrado y nano-ProductosPruebasEsAdecuadoPara escanearImágenes yVarios materiales como metales/No metálicos¿Los conductores/Semiconductores/No-Los conductoresYImanes/No-imanes. Mientras nO requisito especialSe requiere preparación de muestras.

 

Típico de los experimentos y los datos

Algunas imágenes de muestraScannEd usando El AFM

 
 

 Parámetros:

  • La AFM SEK-8502 se puede utilizar en la investigación científica y en los experimentos de enseñanza para estudiantes graduados y universitarios. Operación sencilla y práctica, no se requiere personal profesional y cualificado.
  • Con la unidad de sonda AFM horizontal especialmente diseñada, puede eliminar los escalones verticales de la punta, muestras y dispositivos de ajuste, teniendo una mayor estabilidad y una mejor capacidad antivibración/disturbios.
  • Adopta un diseño abierto y visualizado de ruta óptica, es decir, toda la ruta óptica se puede observar durante el funcionamiento, para satisfacer mejor los requisitos operativos de los usuarios.
  • La AFM puede funcionar perfectamente en condiciones tanto buenas como comunes. Especialmente, es capaz de trabajar en laboratorios y habitaciones normales, y en escritorios o mesas comunes.
  • Puede funcionar correctamente bajo los entornos comunes con luz iluminada, ligera vibración y gente caminando, etc.
  • Rango máximo de escaneo: 4000 nm x 4000 nm.
  • Resolución: lateralmente 0,2 nm, longitudinalmente 0,1 nm.
  • Velocidad de escaneo: ajustable con una velocidad de escaneo máxima de hasta 1 imagen/1 ~ 6 segundos.
  • Tamaño de la muestra: máximo 30mm x 30mm x 10mm.
  • Píxeles de imagen: 100x100 píxeles, 200x200 píxeles, 400x400 píxeles; o 256x256 píxeles, 512x512 píxeles por imagen, escala de grises 256.
  • Formatos de imagen: formato BMP que se puede convertir en cualquier otro formato de imagen.
  • 15 grupos (60 puntas) microsondas AFM para cada AFM. Cada microsonda posee cuatro cantilevers con diferentes constantes de fuerza y longitudes efectivas de 100mm y 200mm.
  • Equipado con ordenador PC todo en uno/LCD a color y software AFM.
  • Equipado con un sistema de monitoreo microscópico óptico basado en USB (campo de visión 1500 μm, resolución óptica 0,5 μm).

Lista de piezas

Artículo

Descripción

Cantidad

1

AFM sonda unidad

1

2

Caja de control AFM (modelo SEK-8502)

1

3

Fuente de alimentación CC (300 V)

1

4

A/D & D/interfaz de control

1

5

AFM microsonda

15 (60 puntas) 

6

Microscopio óptico basado en USB

1

7

Ordenador PC todo en uno, incluido el software AFM

1

8

Muestra

5

9

Muestra etapa

5

10

Tijeras, pinzas, destornillador, lupa, etc.

1

11

La hoja de datos y Manual

1

 
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