Elipsómetro espectroscópico Lab Mueller Matrix para estructura de película semiconductora y nanoestructura periódica

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Zhengzhou Tainuo Film Materials Co., Ltd.7 yrs

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Atributos clave

Especificación esencial de la industria

Garantía

1 año

Potencia

Electrónica

Otros atributos

Soporte personalizado

OEM

Lugar del origen

Henan, China

Marca

CYKY

Número de Modelo

CY-SE-L

Parámetros elipsométricos

Psi: 0-90 °, Delta: -90-270 °

Gama de longitud de onda de la fuente de luz

380-1000nm

Diámetro 200μm

Tiempo de medición

<15S

Ángulo de medición

45-90 °

Función de búsqueda de enfoque

0-20mm, búsqueda de enfoque automático

Exactitud de la repetibilidad del espesor de la película

Mejor que 0.005nm

Exactitud de la despolarización

± 0.5%

Nombre del producto

Ellipsómetro espectroscópico

Palabra clave

Elipsómetro para análisis de espesor de película

Plazo de entrega

Cantidad (conjuntos)	1 - 1	> 1
Hora del Est.(días)	90	Para negociar

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